LED芯片壽命試驗過程全解析
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上傳人： 上傳時間： 2012-09-26 瀏覽次數： 265 |
LED具有體積小，耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點，在實際生產研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行評價，并通過質量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質量。
1、引言
2、壽命試驗條件的確定
3、過程與注意事項
4、壽命試驗臺的設計
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